半導(dǎo)體缺陷檢查
薄膜檢查
FTC2.0X-93C-12K62 | |||
同軸 | Ο | 景深（um） | 61 |
倍率(X) | 2.0 | 遠(yuǎn)心度（<degree） | 0.03 |
工作距離（mm） | 93 | 光學(xué)畸變（%） | 0.03 |
分辨率（um） | 3.9 | 相機(jī)傳感器尺寸 | 62.37mm |
數(shù)值孔徑（物側(cè)） | 0.085 | 接口 | M72 |
有效F/# | 11.8 | I/O（mm） | 511 |
地址：濰坊市高新區(qū)高新大廈1319室
郵箱：kevin0727@fresnel-china.com
