內(nèi)置科勒照明系統(tǒng)，均勻度高
可選同軸或非同軸
分辨率可達3um
LED芯片缺陷檢測
晶圓量測
半導體檢測
FTC3.5X-78/C-12K62 | |||
同軸 | Ο | 景深（um） | 25.9 |
倍率(X) | 3.5X | 遠心度（<degree） | 0.04 |
工作距離（mm） | 78 | 光學畸變（%） | 0.04 |
分辨率（um） | 3 | 相機傳感器尺寸 | 12K5.2um |
數(shù)值孔徑（物側(cè)） | 0.11 | 接口 | M72 |
有效F/# | 15.9 | I/O（mm） | 598 |
地址：濰坊市高新區(qū)高新大廈1319室
郵箱：kevin0727@fresnel-china.com
